賽可SNE全自動臺式掃描電鏡

更新時間：2024-08-23

產品型號：賽可SNE

簡要描述：賽可SNE全自動臺式掃描電鏡更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業測試人員。并提供豐富的擴展功能：顆粒物自動分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設計，可在狹窄的空間內安裝使用。

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詳細介紹

    賽可SNE全自動臺式掃描電鏡特點：

    更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業測試人員。并提供豐富的擴展功能：顆粒物自動分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設計，可在狹窄的空間內安裝使用。

    5nmResolution250,000xMagnification：

    同級別最高性能的StageNavigation功能：優于5um的高精密navigation移動，可迅速位移

    同級別不二標配全自動5軸樣品臺：搭載全新的第三代操作軟件

    任何人均可簡單操作

    強大的自動功能

    超快的真空系統

    Vacuum90sec,Venting15sec

    同級別最快的真空系統，豐富的擴展功能

    3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件

    顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)

    CompactDesign!更強大的性能!

    與現有型號相比，Dimension減少了40%

    300(W)x465(D)x600(H)

    強化用戶便利功能

    自動獲取Navigation圖像

    關閉樣品倉的同時開始自動抽真空

    HIGH-PERFORMANCEHARDWARE：

    最高放大倍率25萬倍，5nmResolution，實現同級別最高放大倍率及超高分辨率，通過全新的高精密電子光學系統，獲取高質量圖像。

五軸全自動樣品臺：

優于5um的高精密全自動樣品臺，實現迅速位移并精準的找到樣品位置。

超快的真空系統

    小巧而精致的設計，進一步提高空間使用率

    -與現款相比，Dimension減少40%

    -小巧緊湊，可在狹窄的空間內安裝使用

    -300(W)x465(D)x600(H)

ALPHA（新款SEM）

NEW第三代Nano-eye

全新的操作軟件，提高用戶體驗

注重人性化的操作界面，操作更加便捷，在短時間內輕松獲取高質量圖像

    強大的自動功能

    *的AutoFocus功能，可快速獲取高質量圖像

強大的自動功能

    超大視野拼圖功能：

    超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗，通過超大視野拼圖功能，觀測樣品全貌，得到大范圍的高分辨率圖像

    所需區域后無需人員操作，軟件開始自動區域掃描，并將圖像拼成全景圖像，方便觀測并提高效率。

超大視野拼圖功能

3D粗糙度分析

通過四分割BSE探測器，重構3D立體圖像，簡單快速的分析表面粗糙度

3D粗糙度分析

    EDS（EnergyDispersiveX-raySpectrometer）是一種安裝在SEM（電子顯微鏡）上的分析樣品表面成分的裝置。

    利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

    Features：

    硅漂移探測器（SDD）

    30mm2有效面積

    超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

    能量分辨率MnKα≤129eV

    帕爾貼制冷，無需液氮或其他冷卻劑

    簡便的操作軟件，快速實現對材料的微區化學成分分析

    主要功能：定性·定量分析,MappingLineScan,Report等

    賽可SNE全自動臺式掃描電鏡規格：

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